觀察和分析樣品的微觀結構
透射電子顯微鏡（TEM）主要用於觀察和分析樣品的微觀結構。
TEM利用加速和聚集的電子束穿透非常薄的樣品，電子與樣品中的原子碰撞後改變方向，產生立體角散射，從而形成圖像。這種顯微鏡具有高解析度和高放大倍數，能夠揭示樣品的形貌、組織結構、晶體缺陷、納米顆粒等細微結構。TEM在材料科學、生物科學、物理學、化學等領域有廣泛的套用，例如，可用於研究金屬合金、陶瓷、高分子材料、細胞、病毒等樣品的超微結構。
此外，TEM還具有元素分析能力，可用於觀察和分析樣品的化學成分、晶體結構等信息，甚至能夠觀察僅一列原子的結構。在半導體行業中，TEM用於先進半導體技術中亞納米尺寸器件特徵的計量和材料表徵。但需要注意的是，TEM樣品製備過程較為複雜，通常需要嚴格控制樣品的製備和操作條件。